會(huì)議主題:  材料及礦物前處理技術(shù)

會(huì)議時(shí)間:  2014年12月22日 14:30-16:30

主講人:    何廣磊  培安公司材料分析制備產(chǎn)品

會(huì)議介紹:  隨著XRF、IR、AA、ICP等終端檢測(cè)儀器在自動(dòng)化、模塊化方面的進(jìn)步，材料元素檢測(cè)越來(lái)越，誤差也越來(lái)越小，終端儀器已不再是檢測(cè)誤差產(chǎn)生的關(guān)鍵。越來(lái)越多的事實(shí)證明，分析的誤差主要來(lái)自于樣品前處理。材料及礦物樣品的采樣和制樣技術(shù)，對(duì)分析實(shí)驗(yàn)結(jié)果有著更大的影響，本文將從研磨、球磨到壓片和熔片等材料樣品前處理技術(shù)進(jìn)行講解，通過(guò)對(duì)各種研磨、壓片、熔片原理和技術(shù)進(jìn)行比較，談一談如何能使我們更快的得到更、更均勻，符合我們實(shí)驗(yàn)要求的樣品。

現(xiàn)場(chǎng)還有答疑和討論時(shí)間，為大家提供與資深工程師進(jìn)一步交流的機(jī)會(huì)。

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